Chiller, Prober, Tester - Warum funktioniert ein Chip fehlerfrei?
Naturwissenschaften

Chiller, Prober, Tester - Warum funktioniert ein Chip fehlerfrei?

Weil Nadeln nicht nur zum Stricken da sind!
Beginn 17:00 Uhr
Ende 23:30 Uhr

Auf einen Blick

Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme IPMS
Characterisation and Test (CAT)
HTWD Zentralgebäude
Z110
Friedrich-List-Platz 1
01069 Dresden (Dresdner Altstadt)
5 Min
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Beschreibung

Damit ein fertiger Chip in elektronischen Geräten verbaut werden kann, braucht es viele technische Instrumente und Arbeitsschritte, um diesen im Vorfeld ausführlich zu testen. Aber wie machen wir das?
Mit Hilfe von Nadelkarten oder Nadel-Manipulatoren werden Chips auf einem Wafer kontaktiert und getestet. Die zu kontaktierenden Pads sind dabei mikroskopisch klein.

Der Chip, also das DUT (Device Under Test) wird dabei auf Folgendes geprüft:
• Stimmen die gemessenen Werte mit der Spezifikation überein?
• Wurden alle Prozessschritte richtig ausgeführt?
• Funktioniert der Chip auch bei hohen und tiefen Temperaturen fehlerfrei?

Bei uns erfährst du, was unsere Chiller, Prober und Tester damit zu tun haben, wie unsere Nadelkarten aussehen und welche zum Einsatz kommen.

NICHT VERPASSEN - LIVE BEI UNS AM STAND: Blick hinter die Kulissen des Teams "Characterisation and Test" (CAT) vom Fraunhofer IPMS.

Information zum Veranstaltungsformat

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