Von der Elementanalyse bis zum 3D-Bild
Das Verfahren erlaubt es, spannende Proben zu untersuchen: Vom 3000 Jahre alten Mörtel bis zu Bauteilen der Mikroelektronik können wir so zerstörungsfrei ins Innere schauen - ebenso wie in ihr ungeöffnetes Überraschungsei.